|
יצירת זוגות אלקטרונים חסרים (חורים) בשל השפעת יוניזציה באזור מרוקן של מוליך למחצה, אשר גורמת לארועי יוניזציה אחרים וכך מגדילה עוד יותר את מספר הנשאים.
|
[#5891] נוסף בתאריך 07-08-2006
« המונחים הקודמים
current gain
electronic grade poly Si
leak
hopping
Gunn diode, TED
|
|
המונחים הבאים »
electromigration
Isotropic etch
anisotropic etch
projection printing
contact printing
|
תגובות (0)
|
הפתקיות שלי (0) 
סימון טקסט 
שלח לחבר 
קשר לכאן 
תגובות (0)
