|
בדיקה בעזרת מיקרוסקופ. שיטה המסוגלת לבחון את פני השטח ברזולציה הקרובה לאטום. מדידה של חספוס פני השטח המוצקים, על בסיס אינטראקציה אלקטרוסטטית בין פני השטח וקצה מכשיר המדידה. ניתן להציב את קצה מכשיר המדידה מעל פני השטח, על פני השטח, או שניתן להקיש על פני השטח בתדירות גבוהה (שיטת ההקשה).
|
[#5844] נוסף בתאריך 07-08-2006
« המונחים הקודמים
deionized water, DI water
aligner
fixed charge
mobile charge
elementary charge, q
|
|
המונחים הבאים »
High Resolution Electron Microscopy [HREM]
dose
atomic number
gas-phase mass transfer
hybrid IC
|
תגובות (0)
|
הפתקיות שלי (0) 
סימון טקסט 
שלח לחבר 
קשר לכאן 
תגובות (0)
