ראה מונחים נוספים:
source
gate
|
אינטראקציות בין הפוטנציאל המופעל על מגע המתכת על שטח פני המוליך למחצה, אך מבודד משטח פנים זה, והפיזור/צפיפות של מטען באזור שליד פני השטח של המוליך למחצה. טרנזיסטורים של השפעת שדה (FET) מסתמכים על אינטראקציות אלו.
|
[#6210] נוסף בתאריך 07-08-2006
« המונחים הקודמים
Early effect
burn-in
assembly
die separation
lateral diffusion
|
|
המונחים הבאים »
evaporation
electron beam (e-beam) evaporation
filament evaporation
sputtering, sputter deposition
avalanche breakdown
|
תגובות (0)
|
הפתקיות שלי (0) 
סימון טקסט 
שלח לחבר 
קשר לכאן 
תגובות (0)
