|
משתח עם פגמים שנחשפים במשטח המואר במהלך פיזור האור
|
[#6336] נוסף בתאריך 07-08-2006
« המונחים הקודמים
gate stack
vertical channel
channel
etch stop
forming gas |
|
המונחים הבאים »
killer defect
Frenkel defect
crystal defects
photolithography, optical lithography
emitter |
תגובות (0)
|