Ebd

ראה מונחים נוספים:
שלמות תחמוצת השער
Gate Oxide Integrity [GOI]

 
שדה חשמלי בתחמוצת ה- MOS שבו התחמוצת מתפרקת. נמדד על ידי הגדלת המתח (מתח משופע) המופעל על שער ה – MOS ומדידה במקביל של הזרם הזורם על פני שער התחמוצת.

[#6130] נוסף בתאריך 07-08-2006

« המונחים הקודמים
המונחים הבאים »

תגובות (0)

שנה » ניווט
דרכונט
גישה לאתר דרכונט
לא מחובר. להתחברות:
דוא"ל:
סיסמה:
שכחתי סיסמה שכחתי סיסמה
משתמש חדש משתמש חדש
 זכור אותי  כן לא

Top10
מבוקשים
חדשים
אחרונים